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NI推荐选择硬件在环（HIL）测试系统I/O接口
高性能模块化的I/O接口是构建成功硬件在环测试系统所必须的。硬件在环（HIL）测试系统体系结构教程讨论了多种硬件在环测试系统体系结构和用于实现的实时处理技术。本教程讨论了多种I/O接口选项，能够用于实时处理器创建您的硬件在环测试系统。
2012-10-31
NI 硬件 测试
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电子负载应用于检测设备测试中
随着电子市场的发展，其前景是毋庸置疑的，而与之相辅相生的电子测量仪表仪器设备也得以广泛应用。就在LED驱动、电源模块测试、充电器生产及UPS生产等领域广泛使用的直流电子负载而言，其已经成为了这些领域必不可少的测试设备。
2012-10-31
电子负载 检测设备 测试
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如何测试小型存储器阵列
随着半导体工艺不断地进步，那些原本存在芯片中的大型存储器会转变成数十或数百个小型的存储器阵列，并且散布在芯片中各个角落。针对这种类型的小型阵列，如果想要侦测出与速度相关的瑕疵以及固定逻辑(stuck-at)故障，其实并不是一件容易的事。
2012-10-31
测试 小型 存储器阵列
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相互调变失真的测量方法
在发射(Tx)路径上的相互调变失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在发射路径上一般都没有主动组件存在，因此它的相互调变失真特性被称为“被动的相互调变失真(passive IMD;PIMD)”。当设计一个无线通信电路时，PIMD在每一个功能单元中的变化不大，所以，在研发阶段就会先测量PIMD。
2012-10-31
相互调变失真 测量方法
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是什么影响电阻和电阻率测试
影响电阻或电阻率测试的主要因素有：环境温湿度、测试电压、测试时间、测试设备的泄漏以及外界干扰等。本文重点谈谈上述五大因素。
2012-10-31
影响 电阻 电阻率测试 主要因素
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VIO的开环测试电路
输入失调电压(VIO)是电压比较器(以下简称比较器)一个重要的电性能参数，GB/T 6798－1996中，将其定义为“使输出电压为规定值时，两输入端间所加的直流补偿电压”。传统测试设备大都采用“被测器件(DUT，Device Under Test)－辅助运放”的测试模式。
2012-10-31
VIO 开环测试电路
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COG取代LCD，可减少医疗系统设计成本
液晶显示器(LCD)在诊断型医疗中的应用日益频繁，尽管LCD监视器与阴极射线管监视器相比具有很多优势，但是(COG)技术是LCD设计的替代方法，在该技术中LCD驱动器直接安装在显示玻璃上，可为医疗应用提供成本和设计优势。
2012-10-31
COG LCD 医疗
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众多专家会诊新一代电子产品的雷电浪涌保护难题
新一代电子产品都在向小型化、集成化发展，自然成本也高，对于电子产品的保护就显得尤为重要，如果你想获得最前沿、最有效的雷电浪涌防护方案，不妨看看来自Bourns、AEM、欧神防雷、君耀电子、槟城电子以及深波电子的专家在第十三届电路保护与电磁兼容技术研讨会上讲解了哪些解决方案与设计诀窍。
2012-10-31
电路保护 电磁兼容 雷电浪涌
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CMOS图像传感器飞速提升监控画质
在目前的监控用高清摄像机产品中，以130万和200万像素为主，且200万及以下像素的产品在传感器方面以CCD、CMOS平分秋色，200万像素以上的产品则主要以CMOS为主，但总体而言，高清摄像机在低照度、宽动态方面的表现仍有待提高。
2012-10-31
CMOS 图像传感器 监控
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