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单片机系统EMC测试
EMC测试包括两大方面内容：对其向外界发送的电磁骚扰强度进行测试、对其在规定电磁骚扰强度的电磁环境条件下进行敏感度测试，对于从事单片机应用系统设计的工程技术人员来说，掌握一定的EMC测试技术是十分必要的。
2013-03-17
单片机 EMC 测试
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TriQuint荣获2013年度中国电子成就奖
TriQuint半导体公司荣获2013年度电子成就奖 (China ACE Awards) 之“年度最佳现场应用支持奖”。这个享有盛誉的奖项充分肯定了TriQuint公司卓越的技术支持和服务的长期承诺。
2013-03-17
TriQuint 获奖
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浅谈频谱仪对EMI测试速度的影响
本文以辐射发射测试为例，在分析了测试流程的基础上，详细讨论了频谱仪对EMI测试速度的影响。选择合适的频谱仪，不仅可以提高测试精度，增强对测试结果的信心，而且可以改善EMI测试吞吐率。
2013-03-16
频谱仪 EMI
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如何改善EMI测试吞吐率
越来越多的EMC测试实验室正努力提高EMI测试速度，加快收回成本的速度，赢取更多的EMC测试市场。本文像读者介绍了EMI测试吞吐率以及如何改善EMI测试吞吐率。
2013-03-16
EMI测试 吞吐率
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IR将携最新节能电源管理方案参展2013慕尼黑上海电子展
IR宣布，将携行业领先的节能电源管理解决方案参展2013慕尼黑上海电子展。该展览会将于2013年3月19至21日在上海新国际博览中心举行。
2013-03-16
IR 电源管理 慕尼黑电子展
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Cadence宣布收购Tensilica，达成最终协议
Cadence近日宣布，其已就以约3亿8千万美元的现金收购Tensilica，达成了一项最终协议。截至2012年12月31日，Tensilica拥有约3千万美元的现金。
2013-03-16
Cadence Tensilica 收购
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ADI推出FPGA夹层卡快速原型开发套件
ADI FPGA开发平台兼容的FPGA夹层卡(FMC)系列采用JEDEC JESD204B SerDes（串行器/解串器）技术，最近该系列推出新品AD9250-FMC-250EBZ套件。数字和模拟设计人员可以利用AD9250-FMC-250EBZ套件简化并快速完成高速 JESD204B A/D converter-to-FPGA 平台的原型开发。
2013-03-16
ADI FPGA 开发套件
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如何使用拉线式位移传感器在工业中的应用
本文基于磁敏角度技术的拉线式位移传感器以磁场为传输载体，将位移变换转换为磁场角度位移，同时，通过通信接口将位移信号返回给应用系统。实现结构简单，输出信号大，使用方便，价格低廉。
2013-03-15
位移 传感 拉线式
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微功率冲击雷达传感系统中信号的处理
本文介绍的雷达传感系统既不需要对发射信号进行载波调制，也不需要对接收信号进行载波解调，而是发射和接收无载波的极窄脉冲信号，并通过相应的信号处理电路，获得目标信息。
2013-03-15
冲击雷达 传感 信号
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