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工程师经验:如何选择合适的MOS器件?

发布时间:2013-12-03 责任编辑:eliane

【导读】MOS的设计主要是基于几对矛盾的选择,而为了针对不同的应用,适应不同的市场需求,各大小厂家生产出了高低电压、大小电流、高低开关阀值等等林林总总几千上万种型号。面对这么多型号的MOS,我们该如何选择?下面是资深工程师分享的一些经验。

先借两个图说明datasheet的主要电参数。

工程师分享:如何选择合适的MOSFET器件?

工程师分享:如何选择合适的MOSFET器件?

功率MOS器件中,BV与Rdson是最大的一对矛盾。
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BVds在20-100V范围的器件的Rdson的表象关系如下图所示。

工程师分享:如何选择合适的MOSFET器件?

可以看到,起码从50-100V段,与Rdson是呈现线性增大的关系;其实从100-700V段,也是如此。

可以想象的是,若在保证同样BV的前提下要求Rdson的降低,可看作同样单位的晶胞数量的增加,意味着单位芯片的面积增加,也即意味着单位成本的增加,也即价格上升。
而这个关系,起码在100V-700V的耐压段的器件中,大致是线性增加的关系!

当然,这是在同等工艺前提下的比较。

功率MOSFET的Rdson具有正温度特性。

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如图,Rdson与温度呈非线性关系。在一些高温环境的应用,例如汽车电子装备等,在进行散热计算时须充分考虑该特性。
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对某一类器件,假定Tc=150时的额定值与Tc=25时的比值为一个固定数值;
100V以下的中低耐压的器件,该数值为1.7-1.8
500V左右的高耐压的器件,该数值为2.4-2.5

根据栅极驱动阀值电压的不同,功率MOSFET会分Vgsth为10V、4V、2.5V等产品类,近年一些如电池管理等应用还出现一些低阀值(18V-2.5V)的器件。在规格书中,一般是通过如下图来描述的:

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Vth有负温度特性,温度上升100度大致降低0.5V。如何降低Vth,一般是通过栅极氧化膜的薄化来实现。选用低Vth的器件时,应在设计中充分考虑关断后驱动电压低电平处理,避免续断噪音或失误。

Qg、Qgd是在设计高频应用中开关损耗的重要项目。如图a中,为达到指定的驱动电压Vgs值(图中xV),栅极的总充电电荷量,即为Qg;Qgd相当与米勒电容Crss,也是影响开关特性的重要参数。两个参数与Vds正相关,Qg与Vds依存关系如图b。

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为了驱动栅极的栅极峰值电流Ig(peak)和驱动损耗P(driveloss)可用下式计算:
Ig(peak)=Qg/t
P(driveloss)=f*Qg*Vgs

在高速开关的应用中,功率MOS的Rdson*Qg的积越小,代表器件性能越好。在功率MOSFET的D、S极间有个寄生二极管。此二极管的额定电流值Idr和正向D极电流额定值Id相同。
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此二极管的特性是:当栅极驱动电压为“零”压降时,此二极管与平常的二极管的正向压降特性相同;当栅极驱动电压为正压降时,此二极管能得到一个即使和肖特基二极管相比还要低的正向压降,如图。此正向压降大小由此时的Rdson决定,Vsd=Id*Rdson

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利用这个反向特性的特点,可积极应用于如下用途:
●防止电池反接的负载开关
●替代电机驱动电路的外接二极管
●开关电源的二次侧同步整流电路

在充分发挥MOSFET寄生二极管的反向特性的电机驱动或开关电源同步整流的应用中,要求此反响恢复时间trr为高速。在这些应用中,由于当电路运行在trr期间时上桥臂/下桥臂短路,导致产生过大的接通损耗。因此,通常在这些应用的控制电路中,需要设计有在切换上/下器件开关的同时是栅极驱动信号断开的DeadTime(比trr长的时间)。

工程师分享:如何选择合适的MOSFET器件?

同时,恢复时(上图的tb时段)的di/dt曲线越陡,越容易产生噪音。因此要求软恢复特性。另外应留意,trr会随着温度的上升会增大。

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在同样的工艺下,不同耐压BV的器件trr有很大不同。BV为60V以下的低耐压时,trr为40~60ns,速度较高;BV为100V级别时,trr为100ns左右;BV在250V~500V的高耐压时,trr的值到了300~600ns,较慢。因此,为这方面应用的高耐压器件,会有一些相应的工艺设计改动,开发在BV250V以上时trr在100ns左右的高速产品。
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下图为某一30V的功率MOSFET的瞬间热阻θch-c(t)与脉宽PW的关系特性。

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此特性是为了计算器件在运行状态时的沟道温度。PW代表单触发脉冲(1shotsinglepluse)或连续工作脉冲的脉宽时长。

例如一个稳定运行情况,工作频率f=200Hz、占空比0.2、功耗Pd=50W,如何计算MOS的沟道温度呢。

首先,f=200Hz即周期时长T=5ms;根据占空比0.2可得PW=1ms;
然后,从上图查得瞬间热阻θch-c(t)=0.3*1.14=0.342℃/W;
于是可得出在此工作状态下,沟道与外壳的温差ΔTch=θch-c(t)*Pd=0.342*50=17.1℃

[例1]

某稳定运行状态,工作频率F=2KHz、占空比D=0.2、外加功率Pd=50W,测得外壳温度Tc=85℃
通过上述可得,周期时长T=500us;因D=0.2,得工作时长t=100us;所以沟道温度Tch:
Tch=Tc+Pd*θch-c(t)
=85+50*0.22*1.14
=97.54℃

[例2]

在上面的稳定运行中,外加一个tp=60us、峰值功率Pd(peak)=500W的工作脉冲,峰值沟道温度Tch(peak):
Tch(peak)=Tc+Pd*θch-c(t)+(Pd(peak)-Pd*D)*θch-c(tp)
=85+50*0.22*1.14+(500-50*0.2)*0.031*1.14
=114.86℃

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相关阅读 :
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