【导读】安捷伦科技公司日前宣布推出多天线校准参考解决方案。该方案可用于校准和表征集成和制造阶段的大型多通道相控阵列天线系统。这是模块化系列的第二个参考解决方案，是安捷伦科技于今年早些时候推出的新概念，它由重要的基础测试系统单元组成，包括硬件、软件和测量专业知识。
参考解决方案提升了每秒内可测量的天线数，提供了多条并行测量的相位相干通道，并且优化了实时数字下变频（DDC）的数据吞吐量。该系统还可快速集成至多通道天线校准测试环境中，从而采用近场窄带阵列测试对接收机通道进行校准。
完整的相控阵天线系统通常包含成千上万的单个T/R组件，因此对其进行校准往往需要花费大量时间。这会增加系统的制造成本，并且限制生产效率的提高。安捷伦最新参考解决方案将会大幅度减少测量时间，有助于降低制造成本，同时提高测试系统的灵活性；因此可广泛适用于多种应用。
安捷伦模块化解决方案营销经理 Mario Narduzzi 说：“我们的客户一直在寻求可扩展的模块化多天线阵列测试解决方案，要求其不仅具有出色的窄带灵敏度，还要具有优异的扩展性，以适应未来的宽频测量情景。最新参考解决方案可对所有输入通道进行相位相干采样；例如借助相对值测量和相位测量软件模板，使客户能够轻松解决上述问题，在大型相控阵天线中加速执行器件间的校准。”
通过使用AXIe 5槽机箱，多天线校准参考解决方案能够将数字化仪的通道数量可从 8 个扩展至 40 个（14 槽机箱的通道扩展数量更多）。此外，它还具有超稳定的相干通道特性（通道间的相位差小于1度）；卓越的分析带宽灵活性（采用 DDC 时为300 MHz，不采用时为 600 MHz）；以及高达100 万次/秒的窄带测量速率。
安捷伦参考解决方案还包括许多实用程序。例如针对特定应用高度优化的实例程序源代码，用以指导用户充分发挥测试系统的性能。安捷伦还实际演示了该参考解决方案，证明其可以为特定应用快速评估测试解决方案，而且可在更短的时间内将新的测试系统集成到现有测试环境中。
