在进行交流无触点设计时，人们偏爱使用双向可控硅。这主要是由双向可控硅的特点决定的，双向可控硅不仅控制电路简单，也没有反向耐压额顾虑，因此才能如此适合于交流无触点设计。交流无触点设计在大型强电流的产品中应用较多，因此双向可控硅需要在强电网络中运行，这就使得其对干扰的抵抗性变得尤为重要，为了最低程度的减小干扰，常用过零触发电路来进行双向可控硅电路的触发。

 

在本文当中，小编将为大家介绍双向可控硅中的过零检测电路。

图1过零检测电路

 

电路设计如图1所示，为了提高效率，使触发脉冲与交流电压同步，要求每隔半个交流电的周期输出一个触发脉冲，且触发脉冲电压应大于4V，脉冲宽度应大于20us。图1中BT为变压器，TPL521-2为光电耦合器，起隔离作用。当正弦交流电压接近零时，光电耦合器的两个发光二极管截止，三极管T1基极的偏置电阻电位使之导通，产生负脉冲信号，T1的输出端接到单片机80C51的外部中断0的输入引脚，以引起中断。在中断服务子程序中使用定时器累计移相时间，然后发出双向可控硅的同步触发信号。过零检测电路A、B两点电压输出波形如图2所示。

图2  A、B两点电压输出波形