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R&S联合六幺四推出频域参数测试方案

发布时间:2023-04-23 来源:R&S 责任编辑:wenwei

【导读】目前400G/800G光模块或元器件、光子集成芯片和器件等高性能光电元器件在现代超大容量光纤骨干网络、云计算数据中心、高速移动通信系统等领域中发挥着不可替代的作用,其带宽、幅度响应、相位响应等频率响应参数决定了整个设施系统的通信容量上限,而带宽发展的最新趋势正在从67 GHz向110 GHz演进。


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罗德与施瓦茨(以下简称“R&S”公司)公司和苏州六幺四科技联合推出的频域参数测试方案——GOCA-110 通用光电元器件分析仪与R&S矢量网络分析仪协同工作,能够帮助用户快速、可靠地实现110 GHz宽频带光电元器件多维频率响应参数测量,助力用户实现高效率高质量的研发与生产。


该方案集成电-光、光-电、光-光三类元器件的频域参数测量,测量频率最高可达110 GHz,测量波长覆盖C波段 / L波段 / 1310 nm。可实现用户对于直调激光器、电光调制器、光电探测器、光微环、光栅等光电芯片、器件和模块的测量,支持S参数、截止频率、差分/共模参数、延时参数、交调/互调参数、噪声系数等关键数据的获取,适用于光电元器件研发、生产和应用的整个周期链。方案已应用于华为、海思光电子、之江实验室、国家创新中心等单位。


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测试系统方案构成


o R&S 110 GHz矢量网络分析仪(ZNA系列)

o GOCA-110 光电底座


方案优势:


o 覆盖电-光、光-电、光-光三种光学器件性能参数测试

o 具有极低的噪声、较高的电功率精确度和校准精度

o 波长分辨率1 fm(125 kHz @ 1550 nm)

o 带宽可达110 GHz

o 各模块可根据生产、测试需求定制

o 最大程度简化用户操作

o 高测试效率


典型指标:


o 测试波长覆盖:C波段 / L波段 / 1310 nm;其他波段可定制

o 支持外置光源

o 测试频率:10 MHz ~ 110 GHz

o 幅度不确定度(典型值):±1.8 dB

o 相位不确定度(典型值):±2.3°


测试原理:


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GOCA-110通用光电元器件分析仪采用“微波光子技术”,突破了传统方法对测量分辨率和相位精确度的限制。通过宽带电-光、光-电转换,实现微波频谱扫描向光波光谱扫描的映射;配合电-光、光-电和光-光校准技术,辅以高精度的微波幅相接收,实现大带宽、高精度、高分辨率的电-光、光-电和光-光元器件频谱响应测试。在频率分辨率、幅度准确度、相位精确度和动态范围等关键参数上,均完成大幅度提升,实现技术突破。


典型测试案例


1、E/O器件测量:


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典型待测件:110 GHz电光调制器


测量结果:


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2、O/E器件测量:


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典型待测件:110GHz高速光电探测器


测量结果:


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3、O/O器件测量:


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典型待测件:光波分复用器


测量结果:


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GOCA系列通用光电元器件分析仪由专用光电底座和R&SZNA、ZNB等系列矢量网络分析仪协同构成,不仅可实现电器件参数分析,还可实现用户对于直调激光器、电光调制器、光电探测器、光微环、光栅等光电芯片、器件和模块的测量,支持S参数、截止频率、差分/共模参数、延时参数、交调/互调参数、噪声系数等关键数据的获取,适用于光电元器件研发、生产和应用的整个周期链。



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