测试测量-技术中心-电子元件技术网

测试测量

采用SPI接口的模拟开关提高通道密度

设计一个要求高通道密度的系统时，例如在测试仪器仪表中，电路板上通常需要包括大量开关。当使用并行接口控制的开关时，控制开关所需的逻辑线路以及用于生成GPIO控制信号的串行转并行转换器会占用很大比例的板空间。

2018-03-23

SPI接口模拟开关通道密度 ADGS1412

松下电器机电施琳：围绕中国企业智能制造升级松下大力推进B2B业务

3月14日至3月16日上海慕尼黑电子展上，“智能制造”已经成为厂商和观众口中频频讨论的一个热词，随着《中国制造2025》战略的推进，中国制造业正在迎来大规模升级发展的契机，在这个宏伟蓝图中，智能制造和绿色制造是转型升级的关键力量。

2018-03-23

松下工业自动化智能制造

Ultra Librarian与Digi-Key合作提供125万种元器件的符号和封装

美国明尼苏达州锡夫里弗福尔斯市——全球电子元器件分销商 Digi-Key Electronics 宣布与 Ultra Librarian 的合作达到新的里程碑；其在线资料库可为 125 万种 Digi-Key 现货零件提供符号、封装和 3D 模型。

2018-03-22

Ultra Librarian Digi-Key 元器件符号和封装

大联大世平集团推出基于TI产品的低功耗智能门锁解决方案

随着越来越多的房主希望改造智能锁（或电子锁）出现在他们的建筑物中，无线电池供电的智能锁在今天的市场里越来越受欢迎。在智能锁定应用中，大电流电机和无线电通常很快耗尽电池，导致电池寿命受到影响。而更换多个电池可能是一个及时而昂贵的问题，因此降低平均电流消耗是一个关键的设计考虑因素。

2018-03-21

大联大世平 TI产品低功耗智能门锁

改进的DAC相位噪声测量以支持超低相位噪声DDS应用

在雷达应用中，相位噪声是要求高杂波衰减的系统的关键性能指标。相位噪声是所有无线电系统都会关心的问题，但是雷达相比通信系统来说特别要求非常靠近载波频率的频偏位置的相位噪声性能。

2018-03-21

DAC 相位噪声测量 DDS应用

了解仪表放大器—钻石图工具的秘密

在许多情况下，仪表放大器具有参考输入引脚。在参考引脚上增加电压会使输出信号升高同等电压。这样就能简单精确地将仪表放大器的输出调整到ADC所需的输入电平，从而可以使用ADC的完整输入范围，同时提高分辨率。在具有高共模信号的情况下，另一优势是极为出色的共模抑制比和高精度。

2018-03-21

仪表放大器 AD8422 AD8421

大联大创新设计大赛“智慧芯城市，驰骋芯未来”

大联大控股宣布，第三届“大联大创新设计大赛”（WPG i-Design Contest）正式启动。本次大赛以“智慧芯城市，驰骋芯未来”为主题，鼓励参赛团队在智慧城市和汽车电子的课题中表达创作，全面展示研发队伍的精彩创新设计理念及操作演示能力。

2018-03-20

大联大创新设计智慧城市

Xilinx CEO 描绘公司新愿景与战略蓝图

Xilinx总裁兼首席执行官（CEO）Victor Peng ，今天揭示了公司的未来愿景与战略蓝图。Peng 的愿景旨在为赛灵思带来新发展、新技术和新方向，打造“自适应计算加速平台”。在该世界中，赛灵思将超越 FPGA 的局限，推出高度灵活且自适应的全新处理器及平台产品系列，为用户从端点到边缘再到云端多种不同...

2018-03-20

Xilinx 处理器

什么是信号源测量单元？

信号源测量单元 (SMU) 是一种将信号源功能和测量功能结合在同一引脚或连接器上的仪器。它可以提供电压或电流，并同时测量电压和/或电流。它将电源或函数发生器、数字万用表 (DMM) 或示波器、电流源及电子负载的功能集成到单个紧密同步的仪器中。

2018-03-20

信号源测量单元 DMM ADALM1000

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