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ML7109S：罗姆联合清华大学开发出小型/低功耗解调IC用于地面数字电视
罗姆集团旗下的LAPIS Semiconductor Co., Ltd.通过与中国清华大学技术合作，现已成功开发出最适宜对按照中国地面数字电视传输标准（GB 20600-2006）（DTMB）信号进行高性能解调、纠错的IC “ML7109S”。
2011-12-27
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2012年LTPS及IGZO面板将迅速成长150%
据NPD DisplaySearch 智能手机和平板电脑爆发式成长，使得LTPS（low temperature polysilicon低温多晶硅技术）和IGZO（indium gallium zinc oxide组成的非结晶氧化物半导体技术）等生产高分辨率显示器技术更为重要。这些TFT技术采用高移动速率半导体材料以减小TFT维度，提高光穿透率。分辨率超过每英寸230像素(230 PPI)的液晶面板，如苹果的Retina Display，高光穿透率可以使能耗降到最低，使可携式设备可长时间使用而不用充电。
2011-12-27
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数字电位器在DC-DC变换器中的应用
数字电位器（DCP）是数控电阻大小的器件，数控的接口方式有直接按键方式、三线接口方式（选片线、方向线、脉冲线）、SPI接口方式和I2C接口方式。通常用于校准系统精度和控制系统参数的大小。
2011-12-26
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12位串行A/D转换器的原理及应用开发
MAXl224/MAXl225系列12位模/数转换器(ADC)具有低功耗、高速、串行输出等特点，其采样速率最高可达1．5Ms/s，在+2．7V至+3．6V的单电源下工作，需要1个外部基准源；可进行真差分输入，较单端输入可提供更好的噪声抑制、失真改善及更宽的动态范围；同时，具有标准SPITM/QSPITM/MI-CROWWIRETM接口提供转换所需的时钟信号，可以方便地与标准数字信号处理器(DSP)的同步串行接口连接。
2011-12-23
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交错并联的低压大电流DC - DC 变换器设计
本文通过n 个倍流整流结构交错并联方式用以进一步减小纹波电流。给出了电路的开关信号波形和仿真模型， 并使用Pspice 仿真软件对该模型进行仿真， 取得满意效果。最后通过实验验证。这种结构特别适用于通信设备、计算机、宇航等领域的电源。
2011-12-23
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蓄电池分级恒流充电电源设计方案
根据蓄电池分级恒流充电的要求，本文给出一种基于DSP、变参数积分分离PI 控制的新型蓄电池恒流充电电源的设计方案。介绍了电源的系统结构、工作原理、控制策略及软件设计。目前该电源已投入工程使用，可对碱性或酸性蓄电池进行恒流循环和补充充电。
2011-12-22
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耦合电感SEPIC转换器的优势
端初级电感转换器 (SEPIC) 能够通过一个大于或者小于调节输出电压的输入电压工作。除能够起到一个降压及升压转换器的作用以外，SEPIC 还具有最少的有源组件、一个简易控制器和钳位开关波形，从而提供低噪声运行。看是否使用两个磁绕组，是我们识别 SEPIC 的一般方法。这些绕组可绕于共用铁芯上，其与耦合双绕组电感的情况一样，或者它们也可以是两个非耦合电感的单独绕组。设计人员通常不确定哪一种方法最佳，以及两种方法之间是否存在实际差异。本文对每种方法进行研究，并讨论每种方法对实际 SEPIC 设计产生的影响。
2011-12-21
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2012年全球半导体设备市场预计衰退10.8%
国际半导体设备材料产业协会（SEMI）公布最新全球半导体资本设备预估报告（SEMI Capital Equipment Forecast），今年全球半导体设备市场预估达418亿美元，较去年小幅成长4.7％，但因经济前景不确定性高，明年市场规模将较今年衰退10.8％，约来到372.8亿美元。
2011-12-12
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通用示波器自动测试系统的设计
本系统采用在微机的I／O通道中插入一块GPIB接口板(即IEEE-488接口板),来实现计算机和示波器校准仪之间的通信(包括程控命令,测量数据,仪器状态信息的传送)，可完成对示波器的多种参数的采集、测试和数据误差的分析处理,完成测量结果的显示、存储、复查和输出打印等操作。
2011-12-09
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2012年大尺寸液晶面板分辨率将达200ppi
NPD DisplaySearch最新季度大尺寸TFT-LCD面板出货调查指出两个趋势，一是平板电脑用面板持续往更高分辨率方向发展，二是低成本直下式LED背光面板将逐渐成为TFT-LCD电视面板另一主流。并预测2012年第二季平板电脑显示屏的平均分辨率将超过200ppi。
2011-12-05
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基于应用非隔离直流的直流转换器
在直流-直流转换器设计中，当输入等于输出时，如果仍然采用输入与输出不等时的转换方法，转换效率将得不到提高，此时可用几种非隔离直流-直流转换方法，包括SEPIC、降压-升压法以及降压升压电路组合法等。本文分析了其中四种方法，并对典型应用中的效率问题进行了特别关注。
2011-11-25
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CMOS电路IDDQ测试电路设计
针对CMOS集成电路的故障检测，提出了一种简单的IDDQ静态电流测试方法，并对测试电路进行了设计。所设计的IDDQ电流测试电路对CMOS被测电路进行检测，通过观察测试电路输出的高低电平可知被测电路是否存在物理缺陷。测试电路的核心是电流差分放大电路，其输出一个与被测电路IDDQ电流成正比的输出。测试电路串联在被测电路与地之间，以检测异常的IDDQ电流。测试电路仅用了7个管子和1个反相器，占用面积小，用PSpice进行了晶体管级模拟，实验结果表明了测试电路的有效性。
2011-11-23
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