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提高LED显示屏远距离通讯稳定性的有效方法
众所周知，数据传输是工业控制领域一个非常重要的环节，数据传输的稳定程度直接影响到产品的可靠性。因此如何提高数据传输的可靠性和稳定性便成为工程师不得不面对的课题。下面以本公司的LED生产看板显示屏项目实施过程中出现的问题为例阐述一下在使用RS-485作为远距离数据通讯手段时要注意的事项。
2012-10-31
LED
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脉搏测量仪
【导读】本文主要讨论脉搏测量仪电路工作原理 、脉搏测量仪软件设计、脉搏测量仪安装与调试 及其解决方案。
2012-10-31
单片机 脉搏 测量
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NI推荐选择硬件在环（HIL）测试系统I/O接口
高性能模块化的I/O接口是构建成功硬件在环测试系统所必须的。硬件在环（HIL）测试系统体系结构教程讨论了多种硬件在环测试系统体系结构和用于实现的实时处理技术。本教程讨论了多种I/O接口选项，能够用于实时处理器创建您的硬件在环测试系统。
2012-10-31
NI 硬件 测试
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电子负载应用于检测设备测试中
随着电子市场的发展，其前景是毋庸置疑的，而与之相辅相生的电子测量仪表仪器设备也得以广泛应用。就在LED驱动、电源模块测试、充电器生产及UPS生产等领域广泛使用的直流电子负载而言，其已经成为了这些领域必不可少的测试设备。
2012-10-31
电子负载 检测设备 测试
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如何测试小型存储器阵列
随着半导体工艺不断地进步，那些原本存在芯片中的大型存储器会转变成数十或数百个小型的存储器阵列，并且散布在芯片中各个角落。针对这种类型的小型阵列，如果想要侦测出与速度相关的瑕疵以及固定逻辑(stuck-at)故障，其实并不是一件容易的事。
2012-10-31
测试 小型 存储器阵列
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相互调变失真的测量方法
在发射(Tx)路径上的相互调变失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在发射路径上一般都没有主动组件存在，因此它的相互调变失真特性被称为“被动的相互调变失真(passive IMD;PIMD)”。当设计一个无线通信电路时，PIMD在每一个功能单元中的变化不大，所以，在研发阶段就会先测量PIMD。
2012-10-31
相互调变失真 测量方法
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是什么影响电阻和电阻率测试
影响电阻或电阻率测试的主要因素有：环境温湿度、测试电压、测试时间、测试设备的泄漏以及外界干扰等。本文重点谈谈上述五大因素。
2012-10-31
影响 电阻 电阻率测试 主要因素
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VIO的开环测试电路
输入失调电压(VIO)是电压比较器(以下简称比较器)一个重要的电性能参数，GB/T 6798－1996中，将其定义为“使输出电压为规定值时，两输入端间所加的直流补偿电压”。传统测试设备大都采用“被测器件(DUT，Device Under Test)－辅助运放”的测试模式。
2012-10-31
VIO 开环测试电路
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TI推出新型SoC：简化设计、降低成本
TI推出新型智能电表SoC，可使开发人员针对智能电子电表应用简化设计、提高弹性与降低系统成本。它结合3个独立引擎的完全集成式解决方案，计量引擎可达到0.5%的电表等级准确度，并支持单相或三相电表。
2012-10-31
TI SoC 智能电表
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