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Murata宣布正在开发支持USB 3.0的共模扼流圈

在2009年3月6日于东京举行的“USB 3.0―SuperSpeed USB的冲击”研讨会上，村田制作所元件事业本部、EMI事业本部及商品开发部的熊谷英树上台介绍了该公司的USB 3.0共模扼流圈的开发情况。

2009-03-13

USB 3.0 共模扼流圈

泰克公司荣获英特尔首选优质供应商奖

日前荣获英特尔公司2008年首选优质供应商(PQS)奖，以表彰泰克全年为英特尔所做出的巨大贡献。泰克公司为英特尔提供优质的验证测试设备，对英特尔的成功至关重要。与泰克一同获得2008年PQS奖项的还有另外25家供应商。

2009-03-13

测试设备英特尔泰克逻辑分析仪示波器

爱普科斯(EPCOS)输出端过压保护参考设计

雷击产生的浪涌电压会对电子设备带来危害，EPCOS输出端过压保护参考设计ProShot 6000可保护家电免受电压浪涌致命影响。

2009-03-13

雷击 EPCOS 浪涌电路保护 ProShot 6000 压敏电阻气体放电管

飞利浦MASTER LED凭出色设计和耐用性再获两大奖

近日，飞利浦MASTER LED获得法国设计研究中心（Institute Francais du Design）及巴黎国际酒店及餐饮设备展（Equip''''''''Hotel Paris）荣誉。

2009-03-12

MASTER LED LED 飞利浦照明

iSuppli预测09年LED背光成为面板产业救世主

据市场研究机构iSuppli预测，2009年全球LED销售额可望逆势成长2.9%，增幅虽低于2008年的10.8%，但表现仍远优于其它销售额骤减的电子零组件产品类别。2009年，LED在背光领域的增长主要集中在液晶电视、笔记本电脑，特别是Netbook上的应用。

2009-03-12

LED背光面板液晶电视笔记本上网本

USB 3.0测试标准将于09年6月底出台

新一代USB“USB 3.0”的兼容性测试标准有望于2009年上半年出台。参与测试标准制定的美国安捷伦科技（Agilent Technologies）表示，预定于09年6月底之前推出“Test Specification 1.0”。这是安捷伦公司的USB应用产品经理Jim Choate在09年3月6日于东京都内举行的研讨会“USB 3.0―SuperSpeed USB的冲击”上...

2009-03-12

USB 3.0 测试仪器

Si7137DP：Vishay新型P 通道功率MOSFET

日前，Vishay Intertechnology, Inc.（NYSE 股市代号：VSH）发布采用其新型 p 通道 TrenchFET第三代技术的首款器件 --- Si7137DP，该 20V p通道 MOSFET 采用 SO-8 封装，具备业内最低的导通电阻。

2009-03-12

TrenchFET Si7137DP MOSFET 导通电阻开关

中国版WEEE出台：电器厂商成本上升5%

在欧盟《关于报废电子电器设备指令》(WEEE)全面实施近三年后，中国版WEEE出台。条例对制造商有很多保护措施，而金融危机的到来让该条例正式实施的时间推迟到2011年元旦。中国版的WEEE在多次征求意见和修改后对生产者采取了优惠的政策，但保留了“生产者负责制”。该法规有可能使电器制造商的成本上升5...

2009-03-12

中国版WEEE WEEE 关于报废电子电器设备指令废弃电器电子产品回收处理管理条例

CM1235/6：California Micro Devices两款最新ESD保护器件

California Micro Devices宣布 XtremeESD(R) 系列新添两款 ESD（静电放电）保护器件CM1235 和 CM1236。这两款器件都整合了获奖的 PicoGuard XS 架构，该架构拥有整合的阻抗匹配和更高的 ESD 性能。

2009-03-11

CM1235 CM1236 ESD保护器件

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