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如何测试小型存储器阵列
随着半导体工艺不断地进步，那些原本存在芯片中的大型存储器会转变成数十或数百个小型的存储器阵列，并且散布在芯片中各个角落。针对这种类型的小型阵列，如果想要侦测出与速度相关的瑕疵以及固定逻辑(stuck-at)故障，其实并不是一件容易的事。
2012-10-31
测试 小型 存储器阵列
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相互调变失真的测量方法
在发射(Tx)路径上的相互调变失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在发射路径上一般都没有主动组件存在，因此它的相互调变失真特性被称为“被动的相互调变失真(passive IMD;PIMD)”。当设计一个无线通信电路时，PIMD在每一个功能单元中的变化不大，所以，在研发阶段就会先测量PIMD。
2012-10-31
相互调变失真 测量方法
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是什么影响电阻和电阻率测试
影响电阻或电阻率测试的主要因素有：环境温湿度、测试电压、测试时间、测试设备的泄漏以及外界干扰等。本文重点谈谈上述五大因素。
2012-10-31
影响 电阻 电阻率测试 主要因素
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VIO的开环测试电路
输入失调电压(VIO)是电压比较器(以下简称比较器)一个重要的电性能参数，GB/T 6798－1996中，将其定义为“使输出电压为规定值时，两输入端间所加的直流补偿电压”。传统测试设备大都采用“被测器件(DUT，Device Under Test)－辅助运放”的测试模式。
2012-10-31
VIO 开环测试电路
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TI推出新型SoC：简化设计、降低成本
TI推出新型智能电表SoC，可使开发人员针对智能电子电表应用简化设计、提高弹性与降低系统成本。它结合3个独立引擎的完全集成式解决方案，计量引擎可达到0.5%的电表等级准确度，并支持单相或三相电表。
2012-10-31
TI SoC 智能电表
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iPad Mini透露苹果去“三星化”的决心
在供应链厂商方面，iPad Mini的“去三星化”更加明显，之前苹果在芯片制造、内存、Flash和面板等方面依赖三星，但是由于二者在终端市场上的竞争日趋白热化，为了不丧失话语权，苹果采取了“去三星化”的策略，将三星逐渐从供应链中剥离，新iPad还在采用三星的面板，而iPad Mini已经不再依赖三星提供面板...
2012-10-31
iPad Mini 苹果 三星
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聚焦新能源汽车与工业应用 第十二届高能效设计研讨会圆满结束
在汽车、工业等领域，低功耗的设计已经不能满足市场的需求，高效的设计才能让产品脱颖而出！但是过压、过热、系统老化、操作行为的问题层出不穷，怎样考虑才能获得高效的设计呢？在第十二届高能效设计研讨会上，TI专家带来的BMS解决方案，丰宝电子专家带来NXP最新的MCU解决方案在能源高效利用中的实...
2012-10-31
高能效设计 研讨会 新能源
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