技术文章
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力科公司在PCI-SIG开发者大会上展示PCI Express 3.0测试套件
力科公司将在6月22-23日于加利福尼亚的圣克拉拉市举行的PCI-SIG®开发者大会上展示针对PCI Express®3.0(PCI® 3.0)规范的最全面的协议感知的测试套件以及解决方案，作为该会议的白金赞助商，力科将演示一套集成的测量调试方案，包括物理层发射机和接收机测试项、 TDR/S-参数测试设备和备受业界赞誉的...
2011-06-22
PCI-SIG PCI Express 3.0 测试
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华强电子网参展2011多人行电子展
华强电子网参展2011多人行电子展
2011-06-22
电子展
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2011年PCIM亚洲电力电子展上莱姆电子亮相
2011年PCIM亚洲电力电子展上莱姆电子亮相
2011-06-22
电子展
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英商康桥半导体推出全新LED驱动芯片用于固态照明
英商康桥半导体近日宣布推出全新的 C3120 LED 驱动芯片系列，从这一系列芯片的发表能够嗅出英商康桥半导体企图成为照明市场中最快速成长区块的重要厂商。全新的芯片是专为驱动极为先进的升压返驰式拓扑结构所设计，能够为 LED 大量应用提供三项基本的效能需求：精准的电流控制、高效率及功率因素校...
2011-06-22
C3120 英商康桥半导体 LED 固态照明
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2012长春国际LED、发光体及城市节能照明技术设备展览会
2012长春国际LED、发光体及城市节能照明技术设备展览会
2011-06-22
长春 LED 节能
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电池的寿命和UPS的可靠性关联分析
本文介绍了电池的温度，充电器设计，电池电压和电池纹波电流对电池可靠性的影响，进一步探讨相应的延长APC UPS电池寿命的方法。
2011-06-22
电池 UPS 电池可靠性
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京都大学试制成功增幅率超过200的SiC晶体管
日本京都大学的研发小组试制出室温时电流增幅率为257和335的SiC BJT（bipolar junctiON transistor）。这是目前业内最高水平，大大超过本田技术研究所等的电流增幅率为130的BJT。
2011-06-22
京都大学 增幅率 SiC 晶体管
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