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【当代材料电学测试】系列之一： 纳米测试（下）
【当代材料电学测试课堂】系列涉及当代材料科学尖端的电运输及量子材料/超导材料测试、一维/碳纳米管材料测试、二维材料及石墨烯测试及纳米材料的应用测试。今天跟您分享第一篇，【当代材料电学测试课堂】系列之一：纳米测试（下）。
2021-03-15
材料电学测试 纳米测试
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【当代材料电学测试课堂】系列之一： 纳米测试（上）
材料性质的研究是当代材料科学的重要一环，所谓材料的性质是指对材料功能特性和效用的定量度量和描述，即材料对电、磁、光、热、机械载荷的反应。源表SMU 在当代材料科学研究中，起到举足轻重的作用，选择适合某类材料电性能测试的SMU，如何降低测试误差，测试中应当注意什么，这些问题都需要重点关...
2021-03-15
材料电学测试 纳米测试
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关于SiP与先进封装的异同点
SiP系统级封装（System in Package)，先进封装HDAP（High Density Advanced Package)，两者都是当今芯片封装技术的热点，受到整个半导体产业链的高度关注。那么，二者有什么异同点呢？
2021-03-15
SiP 先进封装
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如何选取输入电源Y电容？
隔离电源在初次级上加Y电容是为了给次级的共模电流提供一个回路到初级，减少共模电流对输出的影响。有时候Y电容串接在大电解电容的正和或者是地之间，这都是可以的。有时候原副边串两个Y电容是为了提供更高的耐压。
2021-03-15
电源 Y电容
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详解PWM驱动MOS管H桥电路
H桥是一个典型的直流电机控制电路，因为它的电路形状酷似字母H，故得名与“H桥”。4个三极管组成H的4条垂直腿，而电机就是H中的横杠（注意：图中只是简略示意图，而不是完整的电路图，其中三极管的驱动电路没有画出来）。
2021-03-15
PWM驱动 MOS管 H桥电路
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10kHz MEMS加速度计，提供4mA至20mA输出，适合状态监控应用
状态监控(CbM)是一种预测性维护方式，其利用各种传感器来评估设备随时间的运行状态。收集的传感器数据用于建立基线趋势，从而帮助诊断甚至预测故障。与传统的定期预防性维护模式相比，利用CbM可以在需要时进行维护，时间和成本都能得到节省。
2021-03-15
MEMS加速度计 状态监控 应用
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TL431反馈回路的分析和设计
TL431（如图一）是最常用的三端可调电流基准源之一，热稳定性能好，性价比高，被广泛应用于运放电路，比较器电路，ADC基准源，可调压电源，开关电源等。在隔离开关电源电路中尤为常见，TL431常被用做运放配合线性光耦来完成电压环的补偿。如图二所示（图中L是为了降低输出电压纹波加的小电感）。
2021-03-15
TL431 反馈回路 设计
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