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2016年近五成智能机售价300美元以下
报告显示，预估2011年全球 LTE 用户将达到700万户，至2015年，在欧美推动的FDD-LTE及中国、印度等国推动的TDD-LTE趋势下，将推升整体LTE用户成长至2.4亿规模，占全球行动用户比重约3.3%。2012年预估300美元以下中低阶产品约占Smartphone销售比重的17%。
2011-12-22
智能机 LTE WiFi
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射频辐射电磁场抗扰度试验
在新版标准里对试验的严酷等级分为一般试验等级和针对数字无线电话的射频辐射而设定的试验等级。
2011-12-22
射频辐射 射频辐射电磁场抗扰度 抗干扰度标准
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威世Power Metal Strip仪表分流电阻获电子产品世界“2011编辑推荐”奖
日前，Vishay Intertechnology, Inc.宣布，该公司的WSMS2908 Power Metal Strip®仪表分流电阻荣获《电子产品世界》(EEPW)的“2011编辑推荐”奖，该杂志是中国重要的专业类刊物。
2011-12-22
仪表分流电阻 Vishay Power Metal Strip
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静电放电抗扰度试验
关于不接地设备的试验配置，新版标准与旧版标准的配置是相同的。关键是在单次放电时（无论是空气的，还是接触的），试品上的电荷应当在每次施加静电放电脉冲之前先行释放（释放掉在需要施加静电放电的金属点或金属部位上的电荷）。
2011-12-22
静电放电抗扰度 静电放电 静电
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角多路技术在准分子激光放大器中的应用
对于准分子激光放大器，由于激活介质的上能态储能时间很短，必须连续补充瞬态储能(Em)才能获得高能输出，即E=EmT/t，其中T是增益时间，t是增益恢复时间。对于电子束泵浦的准分子激光放大器，增益时间可以长达200ns，T/t≈100，这意味着对于单个要放大的短脉冲，只能提取出很小一部分能量。为了持续提...
2011-12-22
激光放大器 增益时间 编码
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FPGA测试方案随需而变
随着FPGA技术的发展，大容量、高速率和低功耗已经成为FPGA的发展重点，也对FPGA测试提出了新的需求。本文根据FPGA的发展趋势，讨论了FPGA测试面临的挑战，并提出了基于测试仪表的FPGA测试方案。
2011-12-22
FPGA 低功耗 RTO
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判别端子晶体管测试仪
由于晶体管的基-集电极反偏击穿电压各不相同，因此电路提供了一种改变电源电压的简单方式（图3）。随着电压的升高，与发射极连接的两只LED都发光，而集电极只有一个LED发光（图2中b和d）。±4V的基本电压足够用于检测晶体管的基极或类型。如将电源电压从±4V增至±15V，就可以测试很多种晶体管的发射极...
2011-12-22
晶体管测试仪 发射极 集电极
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VA液晶显示器光程差测量方法分析
随着液晶显示器的不断发展，对显示对比度提出了更高的要求。使用垂直排列的液晶显示器即VA 液晶显示器，可以更好地减少底部漏光，更大地提高显示对比度。VA 液晶显示器盒内液晶分子的排列方式是垂直排列，因此采用现有常用的光程差测试设备如CG- 200，无法测量出VA 液晶显示器的光程差。根据VA 液晶...
2011-12-22
VA液晶 显示器 光程差
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微软宣布以后不会再占据国际消费电子展的开幕式
微软宣布以后不会再占据国际消费电子展的开幕式
2011-12-21
电子展
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