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英飞凌AURIX TC3x新增支持FreeRTOS
全球功率系统和物联网领域的半导体领导者英飞凌科技股份公司（FSE代码：IFX / OTCQX代码：IFNNY）的AURIX™ TC3x微控制器（MCU）系列新增了对FreeRTOS的支持。
2024-12-03
英飞凌
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【“源”察秋毫系列】纤维器件及其阵列电学测试方案详解
使用电压表或SMU源表等测试设备（如数字多用表的电压测量档等），将电压表的探头与纤维电学器件的两个输出电极相连接，确保连接牢固且接触良好，以减少接触电阻对测量结果的影响。当纤维电学器件处于工作状态（如受到特定刺激，像压电纤维器件受到外力作用、光电器件受到光照等）或在特定的电路环境...
2024-12-02
纤维器件 电学测试
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借助支持边缘 AI 的 MCU 优化实时控制系统中的系统故障检测
本文中将讨论集成式微控制器 (MCU) 如何增强高压实时控制系统中的故障检测功能。此类 MCU 使用集成神经网络处理单元 (NPU) 运行卷积神经网络 (CNN) 模型，帮助在监测系统故障时降低延迟和功耗。通过将边缘 AI 功能集成到用于管理实时控制的同一 MCU 中，可以帮助您优化系统设计，同时增强整体性能。
2024-12-02
边缘 AI MCU 实时控制系统
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第10讲：SiC的加工工艺（2）栅极绝缘层
SiC可以通过与Si类似的热氧化过程，在晶圆表面形成优质的SiO2绝缘膜。这在制造SiC器件方面具有非常大的优势。在平面栅SiC MOSFET中，这种热氧化形成的SiO2通常被用作栅极绝缘膜，并已实现产品化。然而，SiC的热氧化与Si的热氧化存在一些差异，在将热氧化工艺应用于SiC器件时必须考虑到这一点。
2024-12-02
SiC 栅极绝缘层
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优化简易PCB电路板的大规模测试，提高生产效率
随着各行业对高效完成大批量生产的需求日益增强，构建稳健的测试策略也变得至关重要。此篇是德科技署名文章旨在深入探讨简易电路板生产制造领域中适用的创新测试方法，力求在保障质量的前提下，实现生产效率的最优化。
2024-12-02
PCB 电路板
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贸泽推出RISC-V技术资源中心 探索开源的未来
贸泽电子推出内容丰富的RISC-V资源中心，为设计工程师提供新技术和新应用的相关知识。随着开源架构日益普及，RISC-V从众多选项中脱颖而出，成为开发未来先进软硬件的新途径。从智能手机和IoT设备，再到高性能计算，RISC-V正在各行各业中发展成为更主流的指令集架构 (ISA)。
2024-12-02
贸泽 RISC-V技术
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智能无线传感器设计完全指南
本文概述了几种无线标准，并评估了低功耗蓝牙® (BLE)、SmartMesh （基于IEEE 802.15.4e的6LoWPAN）和Thread/Zigbee（基于IEEE 802.15.4 的6LoWPAN）在恶劣工业射频环境中的适用性，文中提供了几个比较指标，包括功耗、可靠性、安全性和总拥有成本。SmartMesh时间同步消耗的功耗较低，并且SmartMesh...
2024-11-29
智能无线传感器
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