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明年深圳电子展上的传言新品
明年深圳电子展上的传言新品
2012-01-06
电子展
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掉电保护在嵌入式系统中的设计应用
在嵌入式系统设计过程中，系统的掉电保护越来越受到重视。本文介绍的方法是在用ARM7系列芯片S3C4510B和μClinux构建的嵌入式平台上实现的。整个掉电保护实现的基本思路是：产生掉电信号，捕捉掉电信号和处理掉电信号。重点介绍这个过程的具体实现。
2012-01-06
掉电保护 嵌入式系统 ARM7
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Digi-Key 扩展与 Microsemi 的全球经销合作关系
Digi-Key 公司是一家知名电子元件经销商，被设计师们誉为业内最广泛的电子元件库，提供立即发货服务，近日扩展了与 Microsemi 公司的经销关系，业务合作覆盖可编程逻辑解决方案，具体包括该公司的 SmartFusion® 可定制系统单晶片 (cSoC) 产品、低功率现场可编程门阵列 (FPGA) 器件以及相关评估板系列。
2012-01-06
Digi-Key Microsemi 可编程逻辑 SoC FPGA
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CMMB移动数字电视终端的设计
较强的干扰易对CMMB移动接收的性能产生严重影响。一个系统性能的稳定性不仅由芯片性能、天线性能以及PCB Layout决定，还涉及到空间的各种干扰等等。如果在设计中不注意干扰的抑制，往往性能会有非常大的损失。设计一个性能优异的CMMB移动数字电视终端，需要综合考虑很多因素，本文将作详细讨论。
2012-01-06
CMMB 移动数字电视 干扰 天线
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由单相有源功率因数校正（APFC）组合成三相APFC的几种方法
若能将单相APFC电路简单整合成一个三相APFC电路，将能充分利用成熟的单相控制芯片，制作出满足要求的三相APFC装置。下面介绍几种由单相APFC组合成三相APFC的方法。
2012-01-06
功率因数校正 PFC 有源功率因数校正 APFC
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二极管泄漏电流及MOSFET亚阈区电流的测量
测试半导体器件和晶圆片（Wafer）常常要涉及到测量小电流。其中有些测试工作包括各种泄漏电流的测量。另一些对于晶圆片级半导体的弱电流测量则通常与介电材料（氧化物或化合物）的质量有关。这些弱电流测量工作常常使用静电计或源-测量单元。本文将介绍使用源-测量单元测量二极管的泄漏电流以及MOSF...
2012-01-06
二极管 泄漏电流 MOSFET 亚阀区电流
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测试SDRAM控制器的PDMA
现代电子信息设备往往需要保存和处理大量的数字信息，一个高性能的Memory控制器可以大大提高系统的性能。在进行SDRAM控制器的设计时，需要考虑很多因素，设计完成以后还要进行多项测试看是否完全满足所要求的各项性能，为此我们设计了一个PDMA（Programmable Direct Mem o ry Access）用于测试SDRAM...
2012-01-06
SDRAM控制器 PDMA RTL仿真 PCI
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