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电池的电化学阻抗谱(EIS)
图1所示的电路是电化学阻抗谱(EIS)测量系统,用于表征锂离子(Li-Ion)和其他类型的电池。EIS是一种用于检测电化学系统内部发生的过程的安全扰动技术。该系统测量电池在一定频率范围内的阻抗。这些数据可以确定电池的运行状态(SOH)和充电状态(SOC)。该系统采用超低功耗模拟前端(AFE),旨在激励和测量电池的电流、电压或阻抗响应。
2020-05-19
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如何应对FPGA或SoC电源应用面临的小尺寸、低成本挑战?
工业电子产品的发展趋势是更小的电路板尺寸、更时尚的外形和更具成本效益。由于这些趋势,电子系统设计人员必须降低印刷电路板(PCB)的尺寸和成本。使用现场可编程门阵列(FPGA)和片上系统(SoC)的工业系统需要多个电源轨,同时面临小尺寸和低成本的挑战。
2020-05-12
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片上网络(NoC)技术的发展及其给高端FPGA带来的优势
在摩尔定律的推动下,集成电路工艺取得了高速发展,单位面积上的晶体管数量不断增加。片上系统(System-on-Chip,SoC)具有集成度高、功耗低、成本低等优势,已经成为大规模集成电路系统设计的主流方向,解决了通信、图像、计算、消费电子等领域的众多挑战性的难题。
2020-04-30
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贸泽电子与Zipcores签署全球分销协议
2020年3月25日 – 专注于引入新品推动行业创新的电子元器件分销商贸泽电子 (Mouser Electronics) 宣布与Zipcores签署全球分销协议。该公司设计了用于FPGA、ASIC和SoC器件的知识产权 (IP) 核。签署此项协议后,贸泽便可以提供各种Zipcores数字信号处理 (DSP) 夹层卡和各种IP核。
2020-03-25
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如何为裸片到裸片( Die-to-die)间连接选择正确的IP?
自大数据问世以来,用于超大规模数据中心、人工智能(AI)和网络应用的片上系统(SoC)设计人员正面临着不断演进的挑战。由于工作量的需求以及需要更快地移动数据,具有先进功能的此类SoC变得益发复杂,且达到了最大掩模版(reticle)尺寸。本文介绍了die-to-die连接的几种不同用例,以及在寻找用于die-to-die链接的高速PHY IP时要考虑的基本注意事项。
2020-02-27
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电磁串扰分析的新要求
本文将描述在SoC设计方法论中追求新流程的目的。该流程包括提取、评估和分析复杂SoC及其封装环境的全电磁耦合模型。分析结果强调了电磁耦合对现代复杂SOC设计性能和功能的影响。
2020-02-25
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确保便携式设备电池拥有增强的安全性和高精度电量状态的电量计IC
高精度电池电量状态(SOC)、长运行时间和储存期限以及安全性是设计便携式设备时的关键考虑事项。新型、高度集成电量计IC家族解决了这些电池相关的难题。通过ModelGauge™ m5 EZ算法,MAX17301省去了电池特征分析过程,大大改善上市时间(TTM)。该算法能够高精度预测SOC以及增强安全性。此外,IC的低静态电流允许较长的储存期限和较长的运行时间。电量计和保护控制的集成,增强了安全性,最大程度减少材料清单(BOM)和PCB面积。
2019-12-19
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详解使用片上稳压器和片内稳压器的恰当时机
随着对移动计算和手持设备的需求日益增长,系统设计从分立器件转向高度集成的系统级芯片(SoC),同时后端服务器需要更快的计算处理能力,以满足不断增长的数据处理需求。其中的一个趋势是开发环保且使用寿命更长的电池。这就要求更复杂的电源管理方案,稳压器在其中扮演了关键角色,因此如何放置稳压器对于提高性能至关重要。
2019-12-11
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举2个例子教你电源时序控制的正确方法,你get了没?
我们常常想当然地为印刷电路板上的电路上电,殊不知这可能造成破坏以及有损或无损闩锁状况。随着片上系统(SoC) IC越来越多,对电源进行时序控制和管理的需求也越来越多……
2019-11-01
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电源芯片EN引脚对电机控制板的影响
嵌入式硬件设计将成为21世纪微电子的核心技术的系统级芯片(SoC)设计中的三大关键技术与相互融合的一些研究领域做了详细的阐述,并对SoC设计面临的挑战以及发展趋势进行了展望。
2019-07-26
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这款高效又紧凑的电源解决方案,用过的设计师们都说好
系统设计人员被要求生产更小、效率更高的电源解决方案,以满足所有行业SoC和FPGA的高耗电需求。在先进的电子系统中,因为电源必须放在SoC或其外围设备(如DRAM或I/O设备)附近,因此电源封装的可占用空间至关重要。在便携式仪器中,如手持条码扫描仪或医疗数据记录仪系统,空间更为紧凑。
2019-07-11
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化被动为主动,精确又稳健的电池管理系统是这样滴
通过被动和主动电池均衡,电池组中的每个单元都得以被有效监控并保持健康的荷电状态(SoC)。这样不仅可以增加电池循环工作次数,还能够提供额外的保护,防止电池单元由于过度充电/深度放电而产生损坏。
2019-06-17
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