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是什么影响电阻和电阻率测试
影响电阻或电阻率测试的主要因素有：环境温湿度、测试电压、测试时间、测试设备的泄漏以及外界干扰等。本文重点谈谈上述五大因素。
2012-10-31
影响 电阻 电阻率测试 主要因素
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VIO的开环测试电路
输入失调电压(VIO)是电压比较器(以下简称比较器)一个重要的电性能参数，GB/T 6798－1996中，将其定义为“使输出电压为规定值时，两输入端间所加的直流补偿电压”。传统测试设备大都采用“被测器件(DUT，Device Under Test)－辅助运放”的测试模式。
2012-10-31
VIO 开环测试电路
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TI推出新型SoC：简化设计、降低成本
TI推出新型智能电表SoC，可使开发人员针对智能电子电表应用简化设计、提高弹性与降低系统成本。它结合3个独立引擎的完全集成式解决方案，计量引擎可达到0.5%的电表等级准确度，并支持单相或三相电表。
2012-10-31
TI SoC 智能电表
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聚焦新能源汽车与工业应用 第十二届高能效设计研讨会圆满结束
在汽车、工业等领域，低功耗的设计已经不能满足市场的需求，高效的设计才能让产品脱颖而出！但是过压、过热、系统老化、操作行为的问题层出不穷，怎样考虑才能获得高效的设计呢？在第十二届高能效设计研讨会上，TI专家带来的BMS解决方案，丰宝电子专家带来NXP最新的MCU解决方案在能源高效利用中的实...
2012-10-31
高能效设计 研讨会 新能源
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COG取代LCD，可减少医疗系统设计成本
液晶显示器(LCD)在诊断型医疗中的应用日益频繁，尽管LCD监视器与阴极射线管监视器相比具有很多优势，但是(COG)技术是LCD设计的替代方法，在该技术中LCD驱动器直接安装在显示玻璃上，可为医疗应用提供成本和设计优势。
2012-10-31
COG LCD 医疗
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国内锗基MOS器件的研究进展
对于高性能的MOS器件而言，良好的界面对于提升MOS器件的迁移率非常重要，由于high-k/Ge的界面稳定性较差，在界面处存在的大量的缺陷形成载流子的散射中心，阻碍了高迁移率的获得，进而严重影响器件的最终性能。本文讲述了中国科学院微电子研究所在这一方面研究上的显著进展。
2012-10-31
锗基 MOS
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可作为太赫兹倍频器核心元件的肖特基二极管器件和石英电路
中国科学院微电子研究所微波器件与集成电路研究室太赫兹器件研究组研制出截止频率达到3.37THz的太赫兹肖特基二极管和应用于太赫兹频段的石英电路，可作为太赫兹倍频器核心元件，经中电集团41所验证，性能与国际同类产品相当。
2012-10-31
太赫兹 肖特基二极管 石英电路
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麦瑞推出工作电流消耗仅为2.5毫安的低噪声放大器
麦瑞半导体公司今天宣布推出带有低功耗休眠模式的100MHz至1000MHz低噪声放大器（LNA）MICRF300，面向100MHz至1000MHz频率范围的无钥匙进入（RKE）、车库门遥控开关（GDO）和自动抄表（AMR）等低功耗、低数据传输率应用。
2012-10-31
麦瑞 低噪声 放大器
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第80届中国电子展今日上海开幕
中国最大电子展迎来80届盛典，今日在上海新国际博览中心隆重开幕。一直被誉为中国电子信息产业晴雨表的中国电子展，在当前全球经济不景气的情况下，继续成为众多电子企业重视和依赖的交流平台，使得展商同比去年增长4.5%。新能源、数码消费电子、绿色环保概念等成为了本届展会的几大亮点。
2012-10-30
中国电子展
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