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尼得科精密检测与Technohorizon达成合作,联合开发面向AI服务器的自动X射线检测设备

发布时间:2026-03-28 来源:转载 责任编辑:lily

【导读】在生成式人工智能与数字化转型浪潮的推动下,AI服务器与数据中心市场正经历前所未有的扩张。为满足海量数据高速传输的需求,高性能服务器普遍采用高层数、高密度的印制电路板,这使得“背钻工艺”的质量控制成为确保信号完整性的关键环节。面对市场对无损、精准且高效的检测方案的迫切需求,尼得科精密检测科技株式会社与Technohorizon株式会社正式达成战略合作。双方将充分发挥各自在系统集成、机电一体化及X射线成像技术领域的优势,联合开发面向AI服务器市场的自动X射线检测设备,旨在解决高端印制电路板制造中的核心痛点。


尼得科精密检测科技株式会社(以下简称“本公司”)近日与Technohorizon株式会社(总部:日本爱知县名古屋市,董事长:野村扩伸,以下简称“Technohorizon”)达成合作,宣布将携手面向高速增长的AI服务器及数据中心市场,联合开发一款可对多层印制电路板的背钻加工进行高精度、高速检测的新产品——“自动X射线检测设备(AXI)”。


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2026年3月5日在尼得科精密检测科技总部(向日市)举办的签约仪式


(左)Technohorizon董事长、总经理 野村扩伸   (右)尼得科精密检测科技株式会社董事长、总经理 山崎秀和


合作背景


近年来,随着生成式人工智能的普及以及数字化转型(DX)的加速,数据中心及AI服务器市场实现了快速扩张。为实现大容量、高速数据通信,搭载于这些设备的高性能服务器采用了高层数、高密度的印制电路板。在这类高速传输电路板中,通孔等核心工序的加工效果是影响电路板品质的关键因素之一,而“背钻工艺”的质量检测重要性也较以往大幅提升。在此背景下,市场对能够实现无损、精准检测,且适配量产生产线节拍时间的检测解决方案产生了大量需求。


合作目的及愿景


本次开发的新产品,兼顾了可适配量产线全检需求的“行业高水平检测速度”,以及能够满足不良品解析与研发工作的“高精度成像能力”。同时,通过使以往X射线检测设备中成为瓶颈的检测程序设定更加简化和自动化、缩短检测时间、实现检测判定自动化等改进,该产品可适配量产产线的运行模式,以应对激增的AI服务器市场需求。


依托的Technohorizon高灵敏度、高分辨率X射线成像技术,可对背钻加工的剩余厚度(残桩长度)以微米级单位进行可视化与测量。由此,不仅可在量产阶段进行良率判定,一台设备即可完成试制阶段的工艺条件设定、以及不良发生时的详细分析。此外,本公司作为印制电路板检测设备(导通检测、光学检测等)的头部企业,具备高精度测量技术,以及实现检测工序自动化、省力化的机电一体化技术优势。在本次合作中,我们将提供设备整体的系统集成、以及全球化的销售与支持网络。两家公司将通过本产品的市场投放,为支撑AI社会基础设施的高品质电子产品制造贡献力量。


总结

此次合作不仅标志着尼得科精密检测科技与Technohorizon在技术层面的深度互补,更是应对AI基础设施建设挑战的重要一步。通过融合Technohorizon微米级的高精度成像能力与尼得科卓越的自动化系统集成技术,双方将打造出兼顾量产速度与研发级精度的背钻检测解决方案。这一创新产品的推出,将有效简化检测流程,提升良率判定与不良分析效率,从而为支撑未来AI社会基础设施的高品质电子产品制造提供坚实保障,助力全球电子产业链的智能化升级。


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